高性能与高灵活性兼备Ethos采用日立高新的核心技术--的高亮度冷场发射电子枪及新研发的电磁复合透镜，不但可以在低加速电压下实现高分辨观察，还可以在FIB加工时...

追求理想的三维结构分析通过自动重复使用FIB制备截面和进行SEM观察，采集一系列连续截面图像，并重构特定微区的三维结构。采用的镜筒布局，从*材料、*设备到生物组...

追求的TEM样品制备工具 在设备及高性能纳米材料的评价和分析领域，FIB-SEM已成为*的工具。近来，目标观察物更趋微细化；更薄，更低损伤样品的制备需求更进一步...

该导航系统可以将CAD数据的布线和大规模集成电路的设计图形和FIB系统中的坐标位置，样品台就会通过链接移动到相应位置，就可以获得相应位置的SIM图像。同时，CA...

MI4050是具有以下特征的高性能聚焦离子束系统：新型电子光学系统，可达到世界水准的SIM像分辨率・大束流使加工速度得以提升・提高了低加速电压的分辨率，使得高品...

优异的高效分析性能微型采样方法(已在日本和美国取得)已在半导体器件分析领域成为一款工具，它正迅速向更小制样方向发展。仅用一小时左右即可获得一个微小样品，以便于S...